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測定方法について

下述(1)和(2)的数据各自测量系统不同。
因此,
请留意(1)和(2)的数据会有所差异。
 (1)|Z|, R, |X|, Q, DF, L, C, S11, S21, S12, S22
 (2)C-DC bias, C-Temp., C-AC Voltage

【要点】

(1)|Z|, R, |X|, Q, DF, L, C, S11, S21, S12, S22

  • 测量主要使用的是网络分析仪。
  • 考虑到实际使用该数据,因此将电容贴装在专用电路板上测量的。
  • 该数据的测量电压不是恒定的。(0.1Vrms以内)
  • 本数据的测量条件与静电容量的“标称值”的测量条件是不一样的。
  • 提供的S参数和Netlist,都是以这个数据作为数据源。

(2)C-DC bias, C-Temp., C-AC Voltage

[多层陶瓷电容器]
  • 测量使用的是LCR等测试仪。
  • 测量本数据时,使用的是本公司规定的频率进行测量的。
  • 高介电常数型C-DC bias/C-Temp.的静电容量及静电容量变化率图表除了我公司规定的交流电压测量数据外,还可查看通过0.01Vrms测量的数据。
    在低交流电压下使用高介电常数型时,请参考0.01Vrms图表及数据。
  • 我公司官网FAQ刊登了更详细的说明。
    https://www.murata.com/zh-cn/support/faqs/products/capacitor/mlcc/char/0041
[引线型陶瓷电容器]
  • 测量使用的是LCR等测试仪。
  • 测量本数据时,使用的是本公司规定的频率进行测量的。
  • 高介电常数型C-DC bias/C-Temp.的静电容量及静电容量变化率图表,是使用了本公司规定的AC电压测出的数据。

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